iPhone 6sのTouch IDは性能向上、読み取りエラーの減少目指す
アップルの新製品に関する確かな情報を提供してきたKGI証券のアナリスト、ミンチー・クオ氏は、投資家向けに発行した最新のレポートの中で、次世代iPhoneのTouch IDについて、モジュールが改善されて読み取りのエラーが減り、Apple Payをより安全に利用できるようになると述べました。
「今年第3四半期（7～9月）に発売される見通しの次期iPhoneでは、Touch IDのモジュールがアップグレードされるでしょう。アップルは、読み取りのエラーを減らすことで、Apple Payのユーザー体験をより安全かつ快適なものにするとみられます」（クオ氏）
クオ氏によると、サプライヤはTouch IDモジュールの生産増加を見込んでおり、その数は今年第2四半期（4～6月）に前年比77％増の2億6千万台以上に達するとのこと。また、新しいTouch IDには「レーザー溶接処理のためにより高い精度が要求される」とも述べています。そして、新しいTouch IDの主要サプライヤとして台湾TSMCの他、SunnicとASEを挙げています。
最近公開されたアップルの特許申請書類に記載されている、Touch IDのディスプレイへの埋込みについては、キズを最小限に抑えるサファイアディスプレイ製カバーや複雑なアルゴリズムが必要となるため、商品化まではまだ時間がかかると予測しています。
via - MacRumors
