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iPhone 6sのTouch IDは性能向上、読み取りエラーの減少目指す

アップルの新製品に関する確かな情報を提供してきたKGI証券のアナリスト、ミンチー・クオ氏は、投資家向けに発行した最新のレポートの中で、次世代iPhoneのTouch IDについて、モジュールが改善されて読み取りのエラーが減り、Apple Payをより安全に利用できるようになると述べました。

「今年第3四半期(7~9月)に発売される見通しの次期iPhoneでは、Touch IDのモジュールがアップグレードされるでしょう。アップルは、読み取りのエラーを減らすことで、Apple Payのユーザー体験をより安全かつ快適なものにするとみられます」(クオ氏)

クオ氏によると、サプライヤはTouch IDモジュールの生産増加を見込んでおり、その数は今年第2四半期(4~6月)に前年比77%増の2億6千万台以上に達するとのこと。また、新しいTouch IDには「レーザー溶接処理のためにより高い精度が要求される」とも述べています。そして、新しいTouch IDの主要サプライヤとして台湾TSMCの他、SunnicとASEを挙げています。

最近公開されたアップルの特許申請書類に記載されている、Touch IDのディスプレイへの埋込みについては、キズを最小限に抑えるサファイアディスプレイ製カバーや複雑なアルゴリズムが必要となるため、商品化まではまだ時間がかかると予測しています。

via - MacRumors

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